普通的電流探頭,只能測低頻小電流或者瞬間大電流,對于高頻持續大電流,需要用到柔性電流探頭即羅氏線圈。特別是高壓高溫環境,柔性電流探頭可以定制隔離絕緣層,即使1KV的高壓環境,也可以正常測試。耐高溫小環柔性電流探頭CP9121SA/D2A是僅測試AC電流信號的探頭,具有高帶寬,高精度(典型值2%)等特點
發布日期:2024-07-16
一、概述
普通的電流探頭,只能測低頻小電流或者瞬間大電流,對于高頻持續大電流,需要用到柔性電流探頭即羅氏線圈。特別是高壓環境,柔性電流探頭可以定制隔離絕緣層,即使1KV的高壓環境,也可以正常測試。CP9000SA系列柔性電流探頭是僅測試AC電流信號的探頭,具有高帶寬,高精度(典型值2%)等特點。可以實現寬廣的電流測量范圍,頻率可從幾Hz到30MHz,電流范圍從數安培級別到數千安培級別,大大解決了電流測試的難題。其主要特點包括:線圈輕巧柔軟且可以自由插拔,可以探測到許多硬制探頭無法達到的地方,輕而易舉的實現與被測對象連接;插入損耗幾乎為零,僅為幾個皮亨,對被測對象近乎為零的干擾;標準的BNC輸出接口,很方便實現與示波器,數據采集器,數字電壓表等連接,觀測電流波形;4節5號電池供電或者外部USB DC5V電源供電,使用更加靈活方便;聲光過流報警功能,更具人性化設計;探頭環和連接線長度可以根據客戶要求定制,滿足特殊場合測試要求。
CP9000SA 系列探頭感應環細小柔軟,線徑典型值 2.5mm、2.5mm*1.2mm、1.6mm,耐壓值分別高達2kVpk、1kVpk和1kVpk,其中,D2A 系列電流環的線圈耐溫能達到 150℃,非常適合 MOSFET,IGBT 器件管腳電流測量(TO-220,TO-47 封裝)、電容紋波電流測量等小封裝器件電流測量。
二、耐高溫小環柔性電流探頭CP9121SA/D2A與同行對比
1、帶寬高達30MHz(≦11.6ns);
2、貨期只需1-2周;
3、保修長達三年;
4、過保維修成本低;
5、提供多種定制規格。
三、耐高溫小環柔性電流探頭CP9121SA/D2A應用領域:
1、半導體芯片測試;
2、脈沖/浪涌大電流測試;
3、高壓大電流環境測試;
4、監測系統電流變化。
四、規格參數
型號 | 靈敏度 (mV/A) | 峰 值 | 噪聲 (mV Vpp) | 衰減 特性 (%/ms) | 低頻 帶寬 -3dB (Hz) | 高頻 帶寬 -3dB (MHz) | 典型 精度 | 絕緣 電壓值 | |
電流 (kA) | dI/dt (kA/µs) | ||||||||
CP9003SA | 200 | 0.03 | 2 | 20 | 80 | 116 | 30 | 2% | 1kV |
CP9006SA | 100 | 0.06 | 4 | 20 | 65 | 67 | 30 | ||
CP9012SA | 50 | 0.12 | 8 | 15 | 35 | 34 | 30 | ||
CP9030SA | 20 | 0.3 | 20 | 15 | 9 | 9.2 | 30 | ||
CP9060SA | 10 | 0.6 | 40 | 10 | 6 | 6.2 | 30 | ||
CP9120SA | 5 | 1.2 | 70 | 10 | 3 | 3.2 | 30 | ||
CP9300SA | 2 | 3 | 70 | 5 | 2 | 2 | 30 | ||
CP9600SA | 1 | 6 | 70 | 5 | 2 | 2 | 30 | ||
CP9121SA | 0.5 | 12 | 70 | 5 | 2 | 2 | 30 |
五、標準型號
型號 | 不同線徑電流 環型號定義 | Dn的定義:代表電流環 的線徑大小 | 連接線 長度(m) | 環周長 (mm) | |
CP9000SA | CP9000SA/D1 | D1:1.6mm | 1 | 80 | |
CP9000SA/D2 | D2:2.5mm*1.2mm | 1 | 80 | ||
CP9000SA/D2A | D2A:2.5mm*1.2mm (環的線圈耐溫150℃) | 1 | 80 | ||
CP9000SA/D3 | D3:2.5mm (耐壓值高達2kVpk) | 1 | 100 | ||
CP9000A | CP9000A/D4 | D4:3.5mm | 2 | 200 | |
CP9000A/D5 | D5:4.5mm | 2 | 200 | ||
CP9000LA | CP9000LA/D6 | D6:8mm | 4 | 600 |
六、其它產品
HGS系列中壓電網模擬源,具備更強的環境適應性、10kV滿功率輸出等特點,并根據電站功率推出了系列化產品。主要針對并入35kV/10kV電網的新能源電站進行電網適應性測試及故障穿越測試。測試內容包括電壓適應性測試、頻率適應性測試、三相電壓不平衡適應性測試、閃變適應性測試、諧波/間諧波適應性測試、高/低電壓故障穿越測試等。